測(cè)量原理：

　　光學(xué)熱膨脹儀采用了陰影光的方法。在該方法中，通過(guò)測(cè)量CCD探測(cè)器上樣品的陰影來(lái)測(cè)量一個(gè)方向上樣品的尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平面光，通過(guò)一個(gè)擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過(guò)遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測(cè)器記錄。數(shù)字邊緣檢測(cè)自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)而測(cè)定樣品的尺寸。

　　測(cè)量的優(yōu)勢(shì)：

　　光學(xué)熱膨脹儀測(cè)量本質(zhì)上是一個(gè)的測(cè)量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測(cè)器與這些變化相隔離。因此，測(cè)量是的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測(cè)試的校準(zhǔn)。

 

　　特點(diǎn)：

　　1、一次分析中可同時(shí)處理2個(gè)樣品模子；

　　2、自動(dòng)操作，采用圖象技術(shù)分析灰熔點(diǎn)；

　　3、技術(shù)，可監(jiān)測(cè)、電腦計(jì)算、儲(chǔ)存數(shù)據(jù)和曲線；

　　4、可在加氧或減氧壓下進(jìn)行，樣品溫度范圍為200~1550℃；

　　5、被保存的圖象（間隔5°C）可制成熔融動(dòng)畫。曲線、熔點(diǎn)、溫度爬坡均被打印和保存；

　　6、可自動(dòng)辨別形狀（柱狀、金字塔形增漲、金字塔坍塌、絲狀），計(jì)算機(jī)分析相對(duì)于初始狀態(tài)的棱角、頂部變化；

　　7、一旦樣品放入熔爐里，操作者不須動(dòng)手，直到分析結(jié)束。結(jié)果自動(dòng)保存在數(shù)據(jù)庫(kù)并被打印；您可獲得打印報(bào)告、圖片，熔融曲線、數(shù)字熔融過(guò)程、分辨率為4℃；

　　8、該儀器可材料樣品的熱膨脹、熔點(diǎn)測(cè)試、灰熔點(diǎn)、熔融特征，儲(chǔ)存樣品的變化圖象（在您感興趣的溫度范圍內(nèi)）；熔融過(guò)程的圖象（初始點(diǎn)、收縮點(diǎn)、球狀、半球狀、液化）均被儲(chǔ)存，并被自動(dòng)打印，可提供寬度、高度、圓度、溫度爬升等信息；